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產(chǎn)品分類 / PRODUCT

溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱

二氧化硫試驗(yàn)箱熱風(fēng)循環(huán)烘箱高低溫轉(zhuǎn)軸試驗(yàn)機(jī) 干燥箱 PCT老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)房膠帶保持力試驗(yàn)箱馬弗爐可編程高低溫試驗(yàn)箱高低溫交變環(huán)境試驗(yàn)箱大型高低溫交變?cè)囼?yàn)箱高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱非標(biāo)高低溫濕熱試驗(yàn)箱雙層高低溫濕熱試驗(yàn)箱光伏高低溫濕熱試驗(yàn)箱高低溫濕熱老化試驗(yàn)箱小型高低溫試驗(yàn)箱可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱快速溫變?cè)囼?yàn)箱步入式高低溫試驗(yàn)箱低溫試驗(yàn)箱三綜合試驗(yàn)箱 VOC甲醛檢測(cè)試驗(yàn)箱 PCT/HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱恒溫恒濕培養(yǎng)箱真空烘箱高溫老化箱

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2025-11-07

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DX-HAST350半導(dǎo)體材料 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體材料 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test, HAST）是一種用于加速半導(dǎo)體材料、芯片、集成電路（IC）和其他電子元件在高溫高濕環(huán)境下老化過程的設(shè)備。它能夠模擬半導(dǎo)體器件在條件下長(zhǎng)期工作時(shí)可能遇到的環(huán)境應(yīng)力，幫助評(píng)估其可靠性、穩(wěn)定性以及耐久性。

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2025-11-07

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DX-HAST350F電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test）是一種用于加速電子元件、集成電路、電子設(shè)備等在濕熱環(huán)境下老化過程的設(shè)備。該試驗(yàn)箱通過模擬高溫、高濕的環(huán)境，快速測(cè)試電子元件在高應(yīng)力條件下的耐久性和可靠性，通常用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品驗(yàn)證階段。

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DR-H203-2S光通信設(shè)備冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱光通信設(shè)備冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專門用于測(cè)試和驗(yàn)證光通信設(shè)備（如光纖、光模塊、光收發(fā)器等）在惡劣溫度環(huán)境下的性能、穩(wěn)定性和可靠性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。光通信設(shè)備通常在實(shí)際應(yīng)用中面臨溫度波動(dòng)，尤其是在戶外通信設(shè)施或數(shù)據(jù)中心等場(chǎng)景中，溫度變化較為劇烈。因此，冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱通過模擬這些溫度變化，幫助驗(yàn)證光通信設(shè)備在溫度極限條件下的適應(yīng)能力。

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2025-11-07

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DR-H203-2R人工智能芯片熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱人工智能芯片熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專門用于測(cè)試人工智能（AI）芯片在不同溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。AI芯片廣泛應(yīng)用于自動(dòng)駕駛、智能家居、云計(jì)算、數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域，它們必須在惡劣溫度變化（冷熱沖擊）下保持穩(wěn)定的性能。熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中可能出現(xiàn)的溫度波動(dòng)，幫助驗(yàn)證AI芯片的耐溫性、可靠性以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

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2025-11-07

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